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產品詳情
  • 產品名稱:德國Werth 低接觸力測頭

  • 產品型號:德國Werth Force Probe LFP
  • 產品廠商:WYLER水平儀系列
  • 產品價格:0
  • 折扣價格:0
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簡單介紹:
德國Werth 低接觸力測頭,Werth測量機可以集成傳感器:接觸式單點、接觸式掃描、低接觸力測頭、激光線掃描、快速激光、WERTH光纖側頭,WERTH光學測頭、普通光學測頭、可見光干涉測頭、接觸式和激光復合的粗糙度測頭,WERTH CT測頭等十多種。
詳情介紹:
德國Werth 低接觸力測頭

 

Werth Low Force Probe LFP:
應用優點
 
◆  適合于橡膠件,塑料件,薄壁件和其它靈活材料零件的測量
◆  由于LFP的接觸力非常之小,可以省去復雜的工件裝卡
◆  由于LFP的接觸力非常之小,測量桿可以做到非常長(40毫米)或者非常短(0.3到1.6毫米),測量頭的直徑也可以做得非常小
◆  LFP的構造(沒有可移動件,非磁性的材料)使其可以測量帶有磁性的工件
◆  **地集成到Werth多傳感器測量概念中
◆  超高精度的5向接觸的測頭 
◆  安裝選項 
-在PH6或者PH1頭部的M8螺紋上安裝 
-通過在PH10M上的自動連接器PAA1,連接頭SP25/SP600或者MIH 
  
*) *大的可靠的接觸測量偏差;使用Werth 標準體,根據ISO 10360和VDI 2617 

技術數據:

◆ 接觸力小于0.0001牛頓
◆ 測量方向 +/-X, +/-Y, +Z
◆ 接觸精度 MPE*
 (測量頭連接桿的長度40毫米,測量頭的直徑為1毫米):
◆ 單點測量:
     P1: 0.75 μm
     P2: 1.5 μm
     P3: 4.5 μm

技術數據:

接觸力小于0.0001牛頓
測量方向 +/-X, +/-Y, +Z
接觸精度 MPE*
 (測量頭連接桿的長度40毫米,測量頭的直徑為1毫米):
單點測量:
     P1: 0.75 μm
     P2: 1.5 μm
     P3: 4.5 μm
 

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